恒溫恒濕測試箱

一、介紹：恒溫恒濕測試箱又稱為恒溫恒濕測試機，恒溫恒濕試驗箱等多種叫法，恒溫恒濕測試箱已經(jīng)滲透到各行種業(yè)，電子電工、儀表、汽車部件、航空部件、金屬制品、電容、電池電芯、光伏行業(yè)、高校學院、質(zhì)檢院等從多行業(yè)無一能離開它，恒溫恒濕測試箱通過模擬自然環(huán)境中的高溫高濕、高低溫循環(huán)交變等條件來檢測產(chǎn)品的可靠性能，以確定產(chǎn)品的熱應(yīng)力及能抵抗?jié)駳忾L期參透之能力。

二、恒溫恒濕測試箱性能參數(shù)：
型號：KSD-HL-150(A、B、C、D）
測試容積：150L
試驗空間：500*600*500mm；
外箱尺寸：720*1650*1430mm
型號：KSD-HL-225(A、B、C、D）
測試容積：225L
試驗空間：500*750*600mm；
外箱尺寸：720*1800*1530mm
型號：KSD-HL-408(A、B、C、D）
測試容積：408L
試驗空間：600*850*800mm；
外箱尺寸：820*1900*1630mm
型號：KSD-HL-800(A、B、C、D）
測試容積：800L
試驗空間：1000*1000*800mm；
外箱尺寸：1220*2050*1630mm
型號：KSD-HL-1000(A、B、C、D）
測試容積：1000L
試驗空間：1000*1000*1000mm；
外箱尺寸：1220*2050*1730mm
溫度范圍：
A:-20℃～150℃ B:-40℃～150℃ C:-60℃～150℃ D:-70℃～150℃
濕度范圍：20%~98%可調(diào)控。
溫度波動：≤±0.5℃
溫度均勻度：≤±2℃
濕度穩(wěn)定度：±2.5%RH
濕度偏差：±2.5%RH
升溫速率：1.0～3.0℃/min
降溫速率：0.7～1.0℃/min
引線孔：直徑50mm或100mm隨客戶選其一，方便客戶帶通電測試；
硅膠塞：1個
玻璃視窗：1個，可清晰的查看產(chǎn)品測試時的變化；
控制器：7英寸彩色觸摸屏可編程，可編程100組，1000段大容量
其他：附帶各種漏電保護，缺水報警，故障異常報警等功能
電源：空開220V或380V電源。
水源：要求使用去離子水。因為去離子水導(dǎo)電率低，雜質(zhì)少，不容易結(jié)水垢，避免水路堵塞而影響測試效果。

三、恒溫恒濕測試箱的工作原理：
1、恒溫恒濕循環(huán)箱由調(diào)溫（加溫、制冷）和增濕兩部分組成。通過安裝在箱體內(nèi)頂部的旋轉(zhuǎn)風扇，將空氣排入箱體實現(xiàn)氣體循環(huán)、平衡箱體內(nèi)的溫、濕度，由箱體內(nèi)置的溫、濕度傳感器采集的數(shù)據(jù)，傳至溫、濕度控制器（微型信息處理器）進行編輯處理，下達調(diào)溫調(diào)濕指令，通過空氣加熱單元、冷凝管以及水槽內(nèi)加熱蒸發(fā)單元的共同完成。

2、恒溫恒濕箱溫度調(diào)節(jié)是通過箱體內(nèi)置溫度傳感器，采集數(shù)據(jù)，經(jīng)溫度控制器（微型信息處理器）調(diào)節(jié)，接通空氣加熱單元來實現(xiàn)增加溫度或者調(diào)節(jié)制冷電磁閥來降低箱體內(nèi)溫度，以達到控制所需要的溫度。恒溫恒濕箱溫度調(diào)節(jié)是通過體內(nèi)置溫度傳感器，采集數(shù)據(jù)，經(jīng)濕度控制器（微型信息處理器）調(diào)節(jié)，接通水槽加熱元件，通過蒸發(fā)水槽內(nèi)的水來實現(xiàn)增加箱體內(nèi)的濕度或者調(diào)節(jié)制冷電磁閥來實現(xiàn)去濕作用，以達到控制所需要的濕度。

3、恒溫恒濕循環(huán)箱設(shè)有多重保護措施；溫度系統(tǒng)在可設(shè)定蕞大安全允許溫度條件下，裝有過溫保護器，空氣加熱元件可隨旋轉(zhuǎn)風扇停止而自動斷電；加濕系統(tǒng)可隨加濕槽水位降低而停止供電；制冷系統(tǒng)也隨箱體溫度升高（超過40℃）或濕度的加大而停止工作。

我司的恒溫恒濕箱電子元器件都采用施耐德品牌，所以設(shè)備才經(jīng)久耐用，如下圖：

某些低價位的恒溫恒濕測試箱配置如下圖：

有對比就有了傷害，我司的恒溫恒濕箱電子元器件不但使用施耐德品牌，而且配件用材實在，密密麻麻一整排，該用的一個不省，而且布線整齊；而其他家追求低價位的只有零散的幾個電子元器件，還是用國產(chǎn)的電子元器件（說這句話并不是瞧不起國產(chǎn)的意思，是想表明相同條件下，進口配件性能更穩(wěn)定，使用壽命更長，這也是兩者差價的所在之處），電路布線非常零亂。

四、恒溫恒濕測試箱滿足標準
1、GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
2、GB11158- 89高溫試驗箱技術(shù)條件
3、GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
4、GB2423.1 低溫試驗、試驗A
5、GB2423.2 高溫試驗、試驗B
6、GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N
7、IEC68-2-1 試驗A
8、IEC68-2-2 試驗B
9、IEC68-2-14 試驗N
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則